欧美88888,久久香综合精品久久伊人,日韩A视频

您的位置： 首頁 > 產品中心 > 粒度儀 >

產品目錄

PRODUCT CENTER

粒度儀

審計最終粒度儀大粒子計數器高濃度顆粒計數大乳粒分析儀光阻法粒度儀納米激光粒度儀 Zeta電位與粒徑分析儀全進口激光粒度分析儀全自動顆粒計數器多功能自動計數粒度分析儀不溶性微粒分析儀查看全部產品

激光顆粒計數器

激光顆粒計數器型號：AccuSizer 780 A7000 APS 全自動顆粒計數/粒度分析儀，單顆粒光學傳感技術（Single Particle Optical Sizing，SPOS），檢測范圍： 0.5 μm – 400 μm。

更新時間：2026-01-23型號：
現在聯系
Nicomp N3000激光納米粒度儀

激光納米粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。

更新時間：2026-01-23型號：Nicomp N3000
現在聯系
zeta電位及粒度分析儀

zeta電位及粒度分析儀：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時間：2026-01-23型號：
現在聯系
Nicomp Z3000 Zeta粒度及zeta電位分析儀

粒度及zeta電位分析儀工作原理：粒度檢測：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時間：2026-01-23型號：Nicomp Z3000 Zeta
現在聯系
Nicomp Z3000 Zetazeta電位分析儀測粒徑

zeta電位分析儀測粒徑工作原理：粒度檢測：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時間：2026-01-23型號：Nicomp Z3000 Zeta
現在聯系

共 19 條記錄，當前 1 / 4 頁首頁上一頁下一頁末頁跳轉到第頁

Contact Us

QQ：
郵箱：haitaozhang@labeach.cn
傳真：
地址：上海市嘉定區新冠路97號2棟B座502

Products

掃一掃微信咨詢